Rudolph Technologies, Inc.

Rudolph Technologies, Inc.(RTEC.US)成立於1940年，總部設在麻州的Wilmington，設計、開發、製造和支援應用在微電子設施製造中的過程控制缺陷之檢測和測量、先進封裝光刻技術、數據分析系統和軟體等。

該公司還提供晶圓製程及後段製造良率管理解決方案，用在晶圓加工和最終製造，透過獨立系統提供缺陷檢測、光刻、探針卡測試及分析、薄膜測量等。該公司的過程控制軟體解決方案，目的是在提高兩次運轉對比控制、故障檢測、分類和自動化工具等，此外並提供備件。

該公司在美國、台灣、韓國、新加坡、奧地利、日本、德國、大陸及其他歐洲和亞洲國家供應其產品，產品主要售予邏輯IC、記憶體、數據存儲、平板和特殊應用整合電路設備製造商。

2019年10月，公司與Nanometrics Incorporated(NANO.US)合併為Onto Innovation Inc.(ONTO.US)，故下市。